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- Evans, M. Nicolaidis, S. J. Wen, D. Alexandrescu and E. Costenaro: RIIF – Reliability information interchange format, in Proc. 2012 IEEE 18th International On-Line Testing Symposium (IOLTS), Sitges, 2012.
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- Jancke, A. Lange, L. Müller, C. Sohrmann: Herausforderungen und Lösungsansätze für die Berücksichtigung des Alterungsverhaltens beim Entwurf integrierter Schaltungen, in Proc. 7. ITG/GI/GMM-Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf, Dresden, VDE-Verlag Berlin, ITG-Fachbericht 244, 2013 (in German).
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- Burger, G. Jerke, S. Straube, D. Hahn, U. Abelein: Mission Profile gestützer Entwurf von Automobilelektronik, in Proc. EDA Workshop, Hannover, Germany, 2014 (in German).
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- Jerke, A. Kahng: Mission Profile Aware Design - A Case Study, in Proc. Design Automation and Test in Europe (DATE), Dresden, Germany, 2014.
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- Alexandrescu, A. Evans, E. Costenaro and M. Glorieux: A call for cross-layer and cross-domain reliability analysis and management, in Proc. IEEE 21st International On-Line Testing Symposium (IOLTS), Halkidiki, Greece, 2015.
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- Jancke, C. Sohrmann: Quantitative Bewertung der Halbleiter-Zuverlässigkeit im automobilen Umfeld, in Proc. 27. VDI-Fachtagung Technische Zuverlässigkeit, 2015, Leonberg, Düsseldorf: VDI-Verlag, VDI-Berichte 2260, 2015 (in German).
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K.-U. Giering, A. Lange, B. Kaczer, R. Jancke: BTI variability of SRAM cells under periodically changing stress profiles, in Proc. IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW), Lake Tahoe, USA, 2016. |
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- Savino, S. Di Carlo, A. Vallero, G. Politano, D. Gizopoulos: RIIF-2 - Toward the next generation Reliability Information Interchange Format, in Proc. IEEE 22nd International On-Line Testing Symposium (IOLTS), Sant Feliu de Guixols, Spain, 2016.
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- Zeugmann, C. Sohrmann: Entwicklung einer On-Chip Monitorschaltung zur Zuverlässigkeitsuntersuchung von integrierten Schaltkreisen, in Proc. Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf (DASS) 2016, Cottbus, Germany, 2016 (in German).
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- Hirler, J. Biba, A. Alsioufy, T. Lehndorff, T. Sulima, H. Lochner, U. Abelein, and W. Hansch: “Evaluation of effective stress times and stress levels from mission profiles for semiconductor reliability, Microelectronics Reliability, vol. 76-77, pp. 38–41, 2017. [Online]. Available: https://doi.org/10.1016/j.microrel.2017.06.022.
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